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Korean


테스트포럼

Room 318, COEX Wednesday, January 31
1:00pm to 5:10pm

초연결사회 실현을 위해서는 5G, 빅데이터 등의 기술의 상용화가 필수적이며 테스트 산업은 이를 뒷받침 하기 위한 기술적인 과제뿐 아니라 비용절감의 이슈도 함께  고려해야 하는 상황입니다. 더욱 높아진 기술적 요구에 발맞춰 통합 장비, 셀프 테스트, 어댑티브 테스트, 시스템 레벨 테스트 등의 새로운 도전 과제를 맞이하고 있습니다. 본 테스트 포럼에서는 이러한 과제를 해결하기 위한 다양한 방안에 대해 산업계 전문가들의 발표를 통해 알아보고자 합니다.

 

  • 행사명: 테스트포럼
  • 날짜: 2018년 1월 31일 (수)
  • 시간: 13:00-17:10
  • 장소: 코엑스 3층 318호
  • 언어: 영어, 한국어 (동시통역 제공되지 않음)

 

Committee

  • Young-Kwan Ko (UniTest)
  • James Jin-Soo Ko (Teradyne)
  • Kwonsung Ban (Samsung Electronics)
  • JeongBeom Bae (FormFactor Korea)
  • Sokyoung Song (SK hynix)
  • Kyu-hyuk Yeon (ASE Korea)
  • MinHo Chang (Amkor Technology Korea)
  • YH Jeon (TSE)
  • Jeongho Cho (Advantest Korea)

 

등록하기

등록비

  SEMI 회원사 비회원사 학생
사전등록(1/24까지) 150,000 원 180,000 원 80,000 원
현장등록 180,000 원 200,000 원 100,000 원

 

아젠다

 13:00-13:40
   
 13:40-14:10
5-Gen, RF Testing Solution
Sungjong Park, Advantest
   
 14:10-14:40
   
 14:40-15:00 Break
   
 15:00-15:40
   
 15:40-16:10
   
 16:10-16:40
TBD
Ken Lanier, Teradyne
   
 16:40-17:10
 
*상기일정은 사전 안내 없이 변경될 수 있습니다. 
*발표자료는 연사동의를 받은 자료에 한하여 행사 이후 이메일로 다운로드 방법을 안내드립니다.
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