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Korean

Test Forum​

 

Extend Horizon of Test Technology

  • 날짜: 2017년 2월 9일 목요일
  • 시간: 오후 1시 - 오후 5시 
  • 장소: 코엑스 3층 컨퍼런스룸(남) 318호
  • 언어: 영어/ 한국어 (동시통역은 제공되지 않음)

 

등록비  
  SEMI 회원사 비회원사 학생
사전등록(2/1까지) 120,000 원 150,000 원 60,000 원
현장등록 150,000 원 180,000 원 80,000 원

 

 

후원

 

 

Committee 
James JinSoo Ko (Teradyne) 
Minhyun Kwon (SK hynix)
Im Jong Park (Formfactor Korea)
Kwonsung Ban (Samsung Electronics)
Kyu-hyuk Yeon (ASE Korea)
MinHo Chang (Amkor Technology Korea)
Jeongho Cho (Advantest Korea)

 

 

아젠다

13:00-13:30 New Test Flow Challenges in Semiconductor Test
  Ken Lanier, Teradyne
   
13:30-14:00 5G Cellular and the mmWave Testing Challenge
  Stephen Pruitt, Teradyne
   
14:00-14:30 The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems
  Jeongseob Kim, Advantest Korea
   
14:30-14:50 Break
   
14:50-16:30 Using OEE Data to Drive Manufacturing Excellence at Test
  Dale Ohmart, Texas Instruments
   
16:30-17:00 Cost of Test Optimization for WLP High Volume QA Testing
  Serge Kuenzli, COHU

 

*상기 일정은 사전 안내 없이 변경될 수 있습니다.

*발표 자료는 당일 컨퍼런스 종료 후 사이트를 통해 배포됩니다 (연사가 동의하지 않는 경우는 배포되지 않음). 

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