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Test Forum

2020-02-05 | 오후 1:00 - 오후 4:50
#318

The 5G and AI, key issues in the next connected world are increasing demand for putting more pressure on test costs due to higher coverage requirements. Test must become smarter to address the increased quality demands, while at the same time remaining low cost of test. To address these challenges, test industry is struggling with increasing highly accurate and flexible instrumentation integration, smarter strategies, self-test, adaptive test, system-level test, as well as more sophisticated test hardware. 

In this Test Forum, you can get the clues to overcome these challenges from industry expertise.

 

  • 날짜: 2020년 2월 5일(수)
  • 시간: 오후 1:00 - 오후 4:50
  • 장소: 코엑스 3층 318호
  • 언어: 영어, 한국어 (동시통역은 제공되지 않습니다.)​

 

Committee

  • Young-Kwan Ko (UniTest)
  • James Jin-Soo Ko (Teradyne)
  • Hyuk Kwon (Advantest)
  • JeongBeom Bae (FormFactor)
  • Sokyoung Song (SK hynix)
  • Kyu-hyuk Yeon (ASE)
  • MinHo Chang (Amkor Technology)
  • YH Jeon (TSE)
  • SungSoo Chung (QRT)

 

등록비

  SEMI 회원사 비회원사 학생
사전등록 (1/29까지) 150,000 원 180,000 원 80,000 원
현장등록 180,000 원 200,000 원 100,000 원

 

Agenda

Tester Architecture for Era of AI and Big Data

Gregory Smith

Teradyne
오후 1:00 - 오후 1:30

5G System Level Testing: Requirements and Challenges

Rex Chen

LitePoint
오후 1:30 - 오후 2:00

Achieve the Balance of Test Cost, Coverage and Complexity of Advanced Packages and HBM

Quay Nhin

FormFactor
오후 2:00 - 오후 2:30

Break

오후 2:30 - 오후 2:50

5G NR Semiconductor Test Challenges

Sungjong Park

Advantest
오후 2:50 - 오후 3:20

High Speed Wafer Level Testing

Jeff Arasmith

Technoprobe
오후 3:20 - 오후 3:50

Radiation Test of Advanced Device for Automotive Application

Sung S. Chung

QRT
오후 3:50 - 오후 4:20

The Enhancement of Logic SCAN Diagnostics Using Machine Learning Technique for the Fast Yield Ramp Up

Jeongsu Park

Synopsys
오후 4:20 - 오후 4:50

* 상기 일정은 사전 안내없이 변경될 수 있습니다.

* 본 프로그램은 발표자료를 출력하여 제공하지 않습니다. 프로그램 종료 후, 연사 동의를 얻은 발표자료의 다운로드 방법을 안내해드립니다

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